半导体微针
面向微小测试点的精密接触需求。微间距探针可实现最小 120μm 间距测试,以长寿命与稳定重复性服务于半导体终端测试、WLCSP 与 MEMS 传感器。
JQ.
六条产品线,覆盖从 120μm 微间距接触到 100A 大电流、从射频测试模组到自动化生产设备的完整测试链路。
从 120μm 微间距接触到 100A 大电流,从射频测试模组到自动化生产设备。点击卡片可直接跳到该类产品的详细参数。
面向微小测试点的精密接触需求。微间距探针可实现最小 120μm 间距测试,以长寿命与稳定重复性服务于半导体终端测试、WLCSP 与 MEMS 传感器。
射频、微波、毫米波测试链路的核心精密连接器件,低损耗、高稳定性、高重复性、耐插拔。提供 FAKRA、Mini-FAKRA、H-MTD、HSD 浮动测试模组,即插即用,单支探针可轻松更换。
IGBT 62mm 绝缘测试治具与实验工作台,搭载电动 Z 轴驱动系统,面向功率半导体模块的研发验证与绝缘性能测试。柔性工作台可适应多种产品,速度可控,更换便捷。
针对微小测试点精密接触需求,JQ 微间距探针可实现最小 120μm 间距测试,以高品质、长寿命与稳定可重复性,赋能精密电子智能测试。
适配 BGA、QFN、LGA、QFP 等各类封装芯片,性能稳定可重复,丰富产品系列满足各类芯片智能检测需求。
可采集传感器定点信号,高精度稳定测试,为传感器性能评估提供可靠数据。
定制微间距探针,长寿命设计,精准检测手机、可穿戴设备等智能硬件的微小电路板电气连接。
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 标准行程 | 0.45 mm |
| 最大工作行程 | 0.65 mm |
| 额定电流 | 1.0 A |
| 直流电阻 | ≤ 50 mΩ |
| 温度使用范围 | -40°C ~ +200°C |
| 使用寿命 | 150K |
| 其他 | 无磁 |
针对各类电路板与器件测试需求,JQ 全系列测试探针以稳定品质、超长寿命与优异重复性赋能精密智能检测,覆盖电路板测试、界面测试、飞针测试场景。
提供全品类 ICT/FCT 测试探针,含革新系列产品,专为严苛复杂测试环境打造。
一站式界面测试整体方案,集成测试模块、探针与刚性引脚,保障信号可靠稳定传输。
组合探针兼具高精度、低电阻优势,兼容市面主流飞针测试系统。
| 标准行程 | 4.3 mm |
| 最大工作行程 | 6.35 mm |
| 额定电流 | 3–4 A |
| 弹簧力 | 2.0 N |
| 电阻 | 典型 <20 mΩ / 最大 <100 mΩ |
| 温度范围 | -40°C ~ +80°C |
| 标准行程 | 4.3 mm |
| 最大工作行程 | 6.35 mm |
| 额定电流 | 5–8 A |
| 弹簧力 | 2.0 N |
| 电阻 | 典型 <20 mΩ / 最大 <100 mΩ |
| 温度范围 | -40°C ~ +80°C |
| 标准行程 | 9.3 mm |
| 最大工作行程 | 11.5 mm |
| 额定电流 | 5–8 A |
| 弹簧力 | 2.0 N |
| 电阻 | 典型 <30 mΩ |
| 温度范围 | -40°C ~ +80°C |
JQ039 / JQ050 / JQ075 / JQ100 四个间距系列,覆盖 1.00 mm 到 2.54 mm 测试间距;同一系列内提供标准型、长行程型与短行程型。横向滚动查看全部型号,鼠标悬停即暂停。
全系列共用:弹力 100 G · 额定电流 3 A · 工作温度 −55℃ ~ 120℃ · 针头 SK4 / 铍铜镀金 · 弹簧 音乐线镀金或 SUS · 内管 磷铜或铜镍镀金
钻孔列为 CEM1 板适用孔径;FR4 板另有对应值:JQ050 系列 Ø0.970–0.990 mm,JQ100 系列 Ø1.720–1.753 mm。
射频测试探针是射频、微波、毫米波测试链路的核心精密连接器件,具备低损耗、高稳定性、高重复性、耐插拔的核心优势,广泛赋能汽车电子、通讯设备、消费电子核心领域。
射频测试探针系列,覆盖高频、毫米波测试场景。
| 类型 | 单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组 |
| 最高频率 | 6 GHz |
| 线缆接口 | MCX |
| 安装方式 | 螺纹旋入式 |
| 类型 | 单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组 |
| 最高频率 | 12 GHz |
| 线缆接口 | SMPM |
| 安装方式 | 螺纹旋入式 |
| 类型 | 单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组 |
| 用途 | 差分插头连接器测试 |
| 最高频率 | 6 GHz |
| 安装方式 | 插接式 |
| 类型 | 单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组 |
| 用途 | HSD 连接器测试 |
| 安装方式 | 插接式 |
IGBT 62mm 绝缘测试治具与实验工作台,是面向功率半导体 IGBT 模块研发验证、绝缘性能测试的定制化测试工装平台。整套设备搭载电动 Z 轴驱动系统,行程可达 500mm,支持下压速度可控调节,柔性工作台设计可兼容多款功率器件调试与测试。模组化结构设计,探针与被测产品更换便捷。
适配多种产品测试与调试。
下压速度可控,测试压力稳定。
探针及被测产品更换便捷。
灵活匹配不同规格 IGBT 测试需求。
配备安全钥匙开关、状态指示灯、限位保护。
| 适用模块 | IGBT 62mm 功率模块 |
| Z 轴驱动 | 电动,行程可达 500mm |
| 测试类型 | 绝缘性能 / 电气可靠性 |
集成伺服运动控制、高精度视觉尺寸检测、气动执行机构与安全闭环防护,专为精密探针量产加工、尺寸全检开发。设备搭载工业相机视觉拍照系统,实时采集探针外形尺寸数据,自动判定 NG/OK 并联动三色灯报警;采用 Festo 气动阀岛组件,搭配伺服与位移监控,实现压力、行程、速度全参数闭环管控。
伺服 + 位移实时监控,精准管控下压行程、运行速度与作用力。
工业相机在线拍照检测探针尺寸,自动判别良品 / 不良品,三色灯联动提示。
搭载德国 Festo 五联件阀岛,气源稳定可靠,夹爪动作精准可控。
安全门联锁保护,超参数自动停机,异常自动停机报警。
标准化开机确认流程,手动点动调试模式,阀岛模块化结构维护简单。
标准产品之外的规格,都可以谈。从探针、测试模组到治具与产线接口,按客户的工艺、节拍和接口协议开发;来图、来样、来料均可评估,方案、打样、小批量交付全程由同一组工程师跟进。
提供图纸、样品或来料,工程师先做可行性评估再报价。
方案确认后先出样件验证,确认尺寸与性能再走批量。
支持多品种、小批量,交付节奏配合客户的产线排产。
可参与客户测试方案设计,一起定接口、节拍与治具形式。
非标探针、定制测试模组、产线自动化接口都可按需求开发。把图纸或测试要求发给我们,工程师会给出建议方案。