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六条产品线,覆盖从 120μm 微间距接触到 100A 大电流、从射频测试模组到自动化生产设备的完整测试链路。

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六条产品线

从 120μm 微间距接触到 100A 大电流,从射频测试模组到自动化生产设备。点击卡片可直接跳到该类产品的详细参数。

01微针 · MICRO-NEEDLES

半导体微针

面向微小测试点的精密接触需求。微间距探针可实现最小 120μm 间距测试,以长寿命与稳定重复性服务于半导体终端测试、WLCSP 与 MEMS 传感器。

最小 120μm 间距
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02板测 · ICT / FCT

ICT / FCT 探针

覆盖电路板测试、界面测试与飞针测试的全系列测试探针,以稳定品质、超长寿命与优异重复性支撑高密度接触场景。

标准行程 4.3mm
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03射频 · RF

射频探针及测试模组

射频、微波、毫米波测试链路的核心精密连接器件,低损耗、高稳定性、高重复性、耐插拔。提供 FAKRA、Mini-FAKRA、H-MTD、HSD 浮动测试模组,即插即用,单支探针可轻松更换。

FAKRA · H-MTD · HSD
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04治具 · FIXTURES

IGBT 实验台与工装治具

IGBT 62mm 绝缘测试治具与实验工作台,搭载电动 Z 轴驱动系统,面向功率半导体模块的研发验证与绝缘性能测试。柔性工作台可适应多种产品,速度可控,更换便捷。

IGBT 62mm 模块
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05设备 · EQUIPMENT

带视觉拍照的自动化探针生产设备

集成伺服运动控制、高精度视觉尺寸检测与气动执行机构,专为精密探针量产加工与尺寸全检开发。工业相机实时采集探针外形尺寸,形成检测闭环。

视觉尺寸全检
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06定制 · CUSTOM

更多定制化产品

图纸、样品、来料三种方式都能启动。探针、测试模组、治具与产线接口按工艺与节拍开发,从方案评估、打样验证到小批量交付全程跟进。

来图来样 · 非标定制
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01

MICRO-NEEDLES半导体微针

针对微小测试点精密接触需求,JQ 微间距探针可实现最小 120μm 间距测试,以高品质、长寿命与稳定可重复性,赋能精密电子智能测试。

半导体终端测试

适配 BGA、QFN、LGA、QFP 等各类封装芯片,性能稳定可重复,丰富产品系列满足各类芯片智能检测需求。

MEMS 传感器测试

可采集传感器定点信号,高精度稳定测试,为传感器性能评估提供可靠数据。

微型 PCB 测试

定制微间距探针,长寿命设计,精准检测手机、可穿戴设备等智能硬件的微小电路板电气连接。

JQ-DHP-051-016
参数规格
标准行程0.45 mm
最大工作行程0.65 mm
额定电流1.0 A
直流电阻≤ 50 mΩ
温度使用范围-40°C ~ +200°C
使用寿命150K
其他无磁
02

ICT / FCTICT / FCT 探针

针对各类电路板与器件测试需求,JQ 全系列测试探针以稳定品质、超长寿命与优异重复性赋能精密智能检测,覆盖电路板测试、界面测试、飞针测试场景。

电路板测试

提供全品类 ICT/FCT 测试探针,含革新系列产品,专为严苛复杂测试环境打造。

界面测试

一站式界面测试整体方案,集成测试模块、探针与刚性引脚,保障信号可靠稳定传输。

飞针测试

组合探针兼具高精度、低电阻优势,兼容市面主流飞针测试系统。

JQ-TP-075
标准行程4.3 mm
最大工作行程6.35 mm
额定电流3–4 A
弹簧力2.0 N
电阻典型 <20 mΩ / 最大 <100 mΩ
温度范围-40°C ~ +80°C
JQ-TP-100
标准行程4.3 mm
最大工作行程6.35 mm
额定电流5–8 A
弹簧力2.0 N
电阻典型 <20 mΩ / 最大 <100 mΩ
温度范围-40°C ~ +80°C
JQ-TP-135
标准行程9.3 mm
最大工作行程11.5 mm
额定电流5–8 A
弹簧力2.0 N
电阻典型 <30 mΩ
温度范围-40°C ~ +80°C
弹簧探针 / SPRING-LOADED PROBES

四个间距系列,十一款标准型号

JQ039 / JQ050 / JQ075 / JQ100 四个间距系列,覆盖 1.00 mm 到 2.54 mm 测试间距;同一系列内提供标准型、长行程型与短行程型。横向滚动查看全部型号,鼠标悬停即暂停。

JQ039 1.00 mm0.039 in
  • 总长33.50 mm
  • 全行程4.50 mm
  • 有效行程2.70 mm
  • 寿命100K
  • 电阻70–150 mΩ
  • 钻孔Ø0.780–0.805
  • 套管R039N · R039L
JQ050 1.27 mm0.050 in
  • 总长43.20 mm
  • 全行程6.35 mm
  • 有效行程4.20 mm
  • 寿命200K
  • 电阻50–100 mΩ
  • 钻孔Ø0.960–0.980
  • 套管R050C · R050L · R050W
JQ050-L 1.27 mm0.050 in
  • 总长48.50 mm
  • 全行程10.00 mm
  • 有效行程8.00 mm
  • 寿命50K
  • 电阻50–100 mΩ
  • 钻孔Ø0.960–0.980
  • 套管R050C · R050L · R050W
JQ050-S1 1.27 mm0.050 in
  • 总长34.60 mm
  • 全行程6.35 mm
  • 有效行程4.20 mm
  • 寿命200K
  • 电阻50–100 mΩ
  • 钻孔Ø0.960–0.980
  • 套管R050N
JQ075 1.91 mm0.075 in
  • 总长33.20 mm
  • 全行程6.35 mm
  • 有效行程4.20 mm
  • 寿命100K
  • 电阻50–100 mΩ
  • 钻孔Ø1.346–1.397
  • 套管R075N · R075W · R075S
JQ075-L 1.91 mm0.075 in
  • 总长38.80 mm
  • 全行程10.00 mm
  • 有效行程8.00 mm
  • 寿命100K
  • 电阻50–75 mΩ
  • 钻孔Ø1.346–1.397
  • 套管R075N · R075W · R075S
JQ100 2.54 mm0.100 in
  • 总长33.35 mm
  • 全行程6.35 mm
  • 有效行程4.20 mm
  • 寿命200K
  • 电阻30–75 mΩ
  • 钻孔Ø1.702–1.753
  • 套管R100NA · R100C · R100W · R100S
JQ100-L1 2.54 mm0.100 in
  • 总长34.75 mm
  • 全行程7.85 mm
  • 有效行程4.20 mm
  • 寿命100K
  • 电阻30–75 mΩ
  • 钻孔Ø1.702–1.753
  • 套管R100N · R100W · R100S · R100C
JQ100-L2 2.54 mm0.100 in
  • 总长38.70 mm
  • 全行程11.50 mm
  • 有效行程9.00 mm
  • 寿命50K
  • 电阻30–75 mΩ
  • 钻孔Ø1.702–1.753
  • 套管R100N · R100W · R100S · R100C
JQ100-S1 2.54 mm0.100 in
  • 总长10.10 mm
  • 全行程1.50 mm
  • 有效行程1.00 mm
  • 寿命100K
  • 电阻30–75 mΩ
  • 钻孔Ø1.702–1.753
  • 套管R100W-S1 · R100WT-S1
JQ100-S3 2.54 mm0.100 in
  • 总长24.70 mm
  • 全行程4.00 mm
  • 有效行程2.70 mm
  • 寿命100K
  • 电阻30–75 mΩ
  • 钻孔Ø1.702–1.753
  • 套管R100C-S3 · R100S-S3

全系列共用:弹力 100 G · 额定电流 3 A · 工作温度 −55℃ ~ 120℃ · 针头 SK4 / 铍铜镀金 · 弹簧 音乐线镀金或 SUS · 内管 磷铜或铜镍镀金

钻孔列为 CEM1 板适用孔径;FR4 板另有对应值:JQ050 系列 Ø0.970–0.990 mm,JQ100 系列 Ø1.720–1.753 mm。

如何选型
JQ – 100 – 33 20 – 291
  • JQ公司名称
  • 100系列(100 mil 系列)
  • 33整体针的长度
  • 20弹力
  • 291针型
例:JQ-100-33 20-291
03

RF & TEST MODULES射频探针及测试模组

射频测试探针是射频、微波、毫米波测试链路的核心精密连接器件,具备低损耗、高稳定性、高重复性、耐插拔的核心优势,广泛赋能汽车电子、通讯设备、消费电子核心领域。

JQ-HFP-810 / 819 / 823 / 840

射频测试探针系列,覆盖高频、毫米波测试场景。

FAKRA
类型单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组
最高频率6 GHz
线缆接口MCX
安装方式螺纹旋入式
Mini-FAKRA
类型单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组
最高频率12 GHz
线缆接口SMPM
安装方式螺纹旋入式
H-MTD
类型单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组
用途差分插头连接器测试
最高频率6 GHz
安装方式插接式
HSD
类型单腔 / 双腔 / 四腔浮动测试模组
用途HSD 连接器测试
安装方式插接式
04

FIXTURESIGBT 实验台与工装治具

IGBT 62mm 绝缘测试治具与实验工作台,是面向功率半导体 IGBT 模块研发验证、绝缘性能测试的定制化测试工装平台。整套设备搭载电动 Z 轴驱动系统,行程可达 500mm,支持下压速度可控调节,柔性工作台设计可兼容多款功率器件调试与测试。模组化结构设计,探针与被测产品更换便捷。

柔性实验工作台

适配多种产品测试与调试。

Z 轴速度可控

下压速度可控,测试压力稳定。

模块化设计

探针及被测产品更换便捷。

非标定制

灵活匹配不同规格 IGBT 测试需求。

安全防护

配备安全钥匙开关、状态指示灯、限位保护。

IGBT 62mm
适用模块IGBT 62mm 功率模块
Z 轴驱动电动,行程可达 500mm
测试类型绝缘性能 / 电气可靠性
05

EQUIPMENT带视觉拍照的自动化探针生产设备

集成伺服运动控制、高精度视觉尺寸检测、气动执行机构与安全闭环防护,专为精密探针量产加工、尺寸全检开发。设备搭载工业相机视觉拍照系统,实时采集探针外形尺寸数据,自动判定 NG/OK 并联动三色灯报警;采用 Festo 气动阀岛组件,搭配伺服与位移监控,实现压力、行程、速度全参数闭环管控。

伺服精准控制

伺服 + 位移实时监控,精准管控下压行程、运行速度与作用力。

视觉尺寸检测

工业相机在线拍照检测探针尺寸,自动判别良品 / 不良品,三色灯联动提示。

气动执行系统

搭载德国 Festo 五联件阀岛,气源稳定可靠,夹爪动作精准可控。

全闭环安全防护

安全门联锁保护,超参数自动停机,异常自动停机报警。

便捷的操作流程

标准化开机确认流程,手动点动调试模式,阀岛模块化结构维护简单。

06

CUSTOM更多定制化产品

标准产品之外的规格,都可以谈。从探针、测试模组到治具与产线接口,按客户的工艺、节拍和接口协议开发;来图、来样、来料均可评估,方案、打样、小批量交付全程由同一组工程师跟进。

来图来样

提供图纸、样品或来料,工程师先做可行性评估再报价。

快速打样

方案确认后先出样件验证,确认尺寸与性能再走批量。

小批量交付

支持多品种、小批量,交付节奏配合客户的产线排产。

联合开发

可参与客户测试方案设计,一起定接口、节拍与治具形式。

下一步

需要定制,或先看方案?

非标探针、定制测试模组、产线自动化接口都可按需求开发。把图纸或测试要求发给我们,工程师会给出建议方案。

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