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应用
一个平台，无数场景。
让客户从「要解决的问题」出发，而不是在品类目录里翻找。同一条探针技术线，落到不同行业就是不同的接触方案。
应用总览
三个场景
同一条探针技术线，落到不同行业就是不同的接触方案。点击卡片跳到对应的详细说明。
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ELECTRONICS TEST每一个器件都算数。
3C 产品 ICT/FCT 测试与烧录等核心工序的高密度接触，一站式解决针、导线与精确定位。覆盖电路板测试、界面测试与飞针测试三类场景。
电路板测试
全品类 ICT/FCT 测试探针，含革新系列产品，专为严苛复杂测试环境打造，高效完成电路板在线与功能检测。
界面测试
一站式界面测试整体方案，集成测试模块、探针与刚性引脚，保障信号可靠稳定传输。
飞针测试
组合探针兼具高精度、低电阻优势，兼容市面主流飞针测试系统，适配灵活多变的电路板检测。
对应产品
| 系列 | 行程 | 额定电流 |
|---|---|---|
| JQ-TP-075 | 4.3 / 6.35 mm | 3–4 A |
| JQ-TP-100 | 4.3 / 6.35 mm | 5–8 A |
| JQ-TP-135 | 9.3 / 11.5 mm | 5–8 A |
| JQ-DHP-051-016 | 0.45 / 0.65 mm | 1.0 A |
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CONNECTOR TEST连接，必须可靠。
Mini-FAKRA、HFM、H-MTD、HSD 等汽车高速数据连接器的浮动测试模组 —— 即插即用，适配原厂电缆接口，可轻松更换单支探针。长标准系列覆盖不同腔数与频段，螺纹旋入式与插接式两种安装方式按场景选用。
浮动测试模组
| 接口 | 腔数 | 最高频率 | 线缆接口 | 安装方式 |
|---|---|---|---|---|
| FAKRA | 单腔 / 双腔 / 四腔 | 6 GHz | MCX | 螺纹旋入式 |
| Mini-FAKRA | 单腔 / 双腔 / 四腔 | 12 GHz | SMPM | 螺纹旋入式 |
| H-MTD | 单腔 / 双腔 / 四腔 | 6 GHz | H-MTD 组件接口 | 插接式 |
| HSD | 单腔 / 双腔 / 四腔 | — | HSD 组件接口 | 插接式 |
螺纹旋入式
接触牢靠，测试重复性优异，适合长时间稳定测试。
插接式
换型快捷，适合产线多品种快速切换。
差分测试
H-MTD 模组用于差分插头连接器测试。
03
HARNESS TEST让制造变智能。
连接器与线束测试接口，在机械公差与电气可靠性之间取得平衡，独特的防错设计便于产线自动化。配合自动化厂商实现快速定位与稳定可靠的生产测试，提高调试与交付效率。
机械公差兼容
浮动结构吸收装配公差，避免因对位偏差造成的接触不良。
防错设计
独特的防错结构，降低产线误操作与错装风险。
产线自动化
面向自动化产线的接口设计，快速定位，稳定可靠。
配套设备
| 设备 | 用途 |
|---|---|
| IGBT 实验台与工装治具 | 功率模块绝缘与电气可靠性验证 |
| 自动化探针生产设备 | 伺服控制 + 视觉尺寸全检 |
下一步
说说你的测试场景。
被测物是什么、要测什么、产线节拍多少 —— 把这些告诉我们，工程师会给出对应的接触方案。